布鲁克光学轮廓仪的技术要求

布鲁克光学轮廓仪的技术要求

布鲁克光学轮廓仪是实验室开发到批量生产均可适用的仪器。它积累了*代产品在白光干涉技术上的，实现了快速地三维表面测量，从纳米级粗糙度表面的测量到毫米级台阶的测量，垂直分辨率可达亚纳米级。

用于工艺质量监控定标性测试系统ContourGT-X是实验室开发到批量生产均可适用的仪器。它积累了*代产品在白光干涉技术上的，实现了快速地三维表面测量，从纳米级粗糙度表面的测量到毫米级台阶的测量，垂直分辨率可达亚纳米级。可编程的XYZ控制和扫描头自动控制，使得仪器操作简便易行。配备的Vision64软件，具有业界仪器测量和数据分析功能，而其优化设计的用户界面为使用者自行定义自动测量和数据分析提供了便利。

布鲁克光学轮廓仪可用于眼科镜片、医疗器械、高亮度LED、半导体器件、TSV、太阳能电池片、汽车零部件、触摸屏和加工零件等各行业，为用户提供快速、准确地三维非接触式测量。内部激光自校准技术可以自动校准因环境或机械不稳定产生的漂移，无需标准块。大学、研究所，工业领域的LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业、科学研究、产品开发、质量控制及失效分析等领域业界的白光干涉仪

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马尔共聚焦显微镜 

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