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源表应用之半导体器件特性测试IV分析

源表应用之半导体器件特性测试IV分析

 
源表应用之半导体器件特性测试IV分析

  

价格:
 电议 
最小订量:
  
供货总量:
 10000 
发货期:
 3天内发货
包装说明::
  
产品规格:
 S200 
日期:
 2020-04-14 
  
 
详细信息
 

武汉普赛斯仪表数字源表之间高度的命令兼容性,使得测试工程师在维持现有测试平台的同时,仍可以不断投资新技术。提供了电流电压测量,同时也提供高速、精准及智能方案,节省了时间和测试台空间,普赛斯数字源表现广泛用于半导体器件特性测试中,省钱省地,节约测试台空间,同时实现了大动态测试范围,集电压、电流输入输出及测量等多种功能于一体,相对于进口源表,测试范围更广,价格更便宜!最大输出电压达300V,最小测试电流达100pA,支持四象限工作,更多有关源表应用之半导体器件特性测试IV分析信息请联系一八一四零六六三四七六

 

普赛斯源表功能:精确提供四象限电压或电流,并同步测量电流和电压;可以实现电源、万用表、电子负载、电源/测量组合功能;

用途:精确提供和测量电压和/或电流,广泛应用于各种电器特性参数测试中,如IV扫描;

普赛斯源表优势四象限工作,源和负载;电压及电流范围广,电流100pA~1A,电压0.3mV~300V,准确度为0.1%;5寸触摸显示屏图形化操作,内置强大的功能软件,加速用户完成测试;支持多种通讯方式,RS-232、GPIB及以太网;

额外功能(软件实现的):二极管IV扫描及参数分析、三极管IV扫描及参数分析、LIV测试系统、太阳能电池放电测试系统、电池充放电循环系统等;

 




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