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QFN320.4翻盖弹片测试座44IC烧录座QFN老化座

QFN320.4翻盖弹片测试座44IC烧录座QFN老化座

 
QFN320.4翻盖弹片测试座44IC烧录座QFN老化座
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QFN320.4翻盖弹片测试座44IC烧录座QFN老化座

  

价格:
 176 
最小订量:
  
供货总量:
 100000 
发货期:
 1天内发货
包装说明::
 测试座1个 
产品规格:
 尺寸4*4 
日期:
 2019-08-13 
  
 
详细信息
 本款测试座是翻盖结构;适配芯片规格:QFN封装、32pin;引脚间距:0.4mm;芯片规格尺寸 4x4mm QFN32-0.4翻盖弹片测试座 产品简介 产品用途:编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行烧写、测试 适用封装:QFN32引脚间距0.4mm 测试座:QFN32-0.4 规格尺寸 型号:QFN-32-0.4 引脚间距(mm):0.4 脚位:32 芯片尺寸:4*4mm 




本信息网址:https://www.sn180.com/sell/offerView/113466789.html
 
 

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