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高精度薄膜测厚仪

高精度薄膜测厚仪

 
高精度薄膜测厚仪

  

价格:
 790元 
最小订量:
  
供货总量:
 100 
发货期:
 1天内发货
包装说明::
  
产品规格:
  
日期:
 2019-01-22 
  
 
详细信息
 林上LS220是一款高精度薄膜测厚仪,这款仪器适用于检测金属基体上的涂层厚度。有两种测量原理,一种是磁性测量,一种是涡流测量。 高精度薄膜测厚仪的使用方法: 1. 开/关机 开机: 短按仪器上按键开机,开机后显示仪器的生产日期,调校日期,版本号和序列号,然后进入最近一次记录的历史数据界面。 关机:长按仪器上按键关机;或3分钟无操作自动关机。 2. 调零 1) 用仪器测量调零板或未喷涂工件(基体),此时仪器会显示一测量值(测量时将仪器探头垂直按压在调零板或基体的中心位置,保持探头稳定不要倾斜或晃动)。 2) 保持探头不动,轻按一下仪器上的按键,听到峰鸣器提示声后,仪器会提示“调零请压紧探头”。 3) 等仪器提示“请提起探头15cm以上”,抬起探头并离开调零板或基体15cm以上。 4) 再次听到峰鸣器提示声后,液晶显示0.0,调零完毕。 5) 调零完成后,将标有标准数值的测试片放在调零板或基体上测量,如果数值稳定且与标准片上标定的数值一致(误差在±1μm内),说明仪器可以正常使用了。 3. 测量 1) 手指握住探头有防滑凹槽的位置。 2)将仪器探头垂直按压在被测物的表面,保持探头稳定不要倾斜或晃动,屏幕上将出现测量结果,并有峰鸣器提示。 3) 要继续测量,可以抬起探头,远离待测物,然后重新按照步骤 2)操作。 测量时,可能出现以下的几种界面: +INFI:超出有效测量范围或探头固定的测量模式与被测基体不符 -INFI:测量值小于-100μm,仪器需要重新调零。 自动识别模式下,由Fe基体切换成NFe基体时,会提示:NFe测量模式。 自动识别模式下,由NFe基体切换成Fe基体时,会提示: Fe测量模式。 4. 查看测量记录 测量模式下,短按键可查看历史数据。仪器共存储9组数据,超过9组数据时,自动删除最旧的记录值,No.1为最近的一次测试数据,记录数据关机不丢失。 生产制造商:深圳市林上科技有限公司 公司网址: 产品网站: 




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